Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀

簡要描述：Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。

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更新時間：2025-09-04
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Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀介紹：

同步測量薄膜的反射率/穿透率

不需要費時改變硬件配置，F10-RT僅需要透過單擊滑鼠就能夠同時收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。另外，Filmetrics利的AutoBaseline設計可以減少十倍以上的基準矯正的參數讀取時時間。

分析優點

Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀使Filmetrics的分析能力實現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的點擊滑鼠就能夠產生在客戶波長范圍內，得出大與小的反射率與穿透率。系統內置邊緣檢測分析與FWHM分析，以及能展現于常見的空間色彩系統的色彩分析(例如: CIELAB與CIEXYZ)。而測量光譜與其他的數據能夠很容易的透過打印與導出或以JPEG圖片形式來傳送。同時，選配的膜厚和參數解算模塊使F10-RT具有與Filmetrics F20相同多層薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運送抵達時具有完整的標準配備，小巧的機身與USB接口保證使您容易安裝。整機無任何運動件，除鎢鹵素燈外無需其他維護，確保設備高度可靠。